Około 70 osób z branży odlewniczej wzięło udział w organizowanych przez firmę Lenso Warsztatach Metrologia 3D w odlewnictwie i procesach odlewniczych

Ogólnopolskie Forum Metrologii i Obróbki Skrawaniem. Zobacz relację

Forum OFTMOS jest kontynuacją cyklu seminariów poświęconych technikom pomiarowym stosowanym w metrologii przemysłowej

Nowe oprogramowanie oferuje większą wydajność i możliwość symultanicznego wykonywania pomiarów

7 kwietnia odbyło się oficjalne otwarcie pracowni skanowania 3D w Laboratorium Metrologii Współrzędnościowej Politechniki Krakowskiej

TPI oraz FARO zapraszają na Akademię Mobilnych Rozwiązań Metrologicznych 5 grudnia w Gdyni.

Polskie badania sond do pomiarów geometrycznych dla obrabiarek CNC wpisują się w światowe prace nad różnymi zagadnieniami związanymi z pomiarami na obrabiarkach.

O ludziach nadmiernie wnikających w istotę jakiejś rzeczy mówi się, że "dzielą włos na czworo". To określenie doskonale nadaje się do opisu praktycznego wymiaru współczesnej metrologii geometrycznej.

ROMER, niekwestionowany specjalista w dziedzinie metrologii Hexagon Metrology, Inc., ogłasza nową linię bezdotykowych systemów inspekcyjnych i pomiarowych.

Badanie powierzchniowych warstw materiałów metodami spektroskopowymi - niezwykle istotne dla nanotechnologii, inżynierii materiałowej, mikroelektroniki i wielu innych dziedzin - wymaga znajomości pewnych parametrów, dostępnych w bazach danych rozprowadzanych obecnie przez amerykański Narodowy Instytut Technologii i Standaryzacji (NIST). Bazy te, wykorzystywane przez naukowców z całego świata, powstają dzięki Polakowi - prof. dr. hab. Aleksandrowi Jabłońskiemu z Instytutu Chemii Fizycznej (IChF) PAN w Warszawie.