Inspect-X 1.5 do analizy obrazów tomografii komputerowej

Metris  zaprezentował program Inspect-X 1.5, który upraszcza działanie systemów do analizy tomografii komputerowej (CT) oraz radiograficznej inspekcji elementów elektronicznych.
 

Program oferuje całkiem nowy, zintegrowany system do optymalizacji procesu pobierania danych z tomografii. Dzięki nowemu silnikowi do rekonstrukcji, opracowanemu przez Metris całkowity czas tworzenia rekonstrukcji w tomografii skrócono do rzędu kilku minut. Dodatkowo poprawiono moduł odpowiedzialny za inspekcję elektroniki usprawniając jego działanie i zautomatyzowanie, co dodatkowo zwiększa dokładność i powtarzalność wyników inspekcji.
 

Wiarygodne wyniki tomografii komputerowej w możliwie najkrótszym czasie
 

Do zastosowań przemysłowych oraz radiografii elementów elektronicznych Inspect-X 1.5 wyposażono w przeprojektowany i uproszczony kreator (wizard), który prowadzi użytkownika możliwie łatwo i bezboleśnie przez proces instalacji i ustawiania CT. Wyraźnie położono w nim nacisk na łatwość użycia, gdyż tylko kilka kliknięć myszką dzieli włożenie próbki od uzyskania gotowych danych z tomografii. Uproszczenie działania polega między innymi na automatycznym sugerowaniu ustawień, dzięki czemu każdy, w krótkim czasie może uzyskać dokładny obraz z tomografii. Aby zwiększyć efektywność pracy przy powtarzalnych skanach, ustawienia można zapisać i użyć ponownie w przyszłości. Znacząco zwiększa to efektywność skanowania próbek o identycznych lub podobnych warunkach badań.
 

Inspect-X przyspiesza rekonstrukcję tomografii dzięki wbudowanemu specjalnemu algorytmowi, zaprojektowanemu z myślą o szybkim i dokładnym działaniu. I tak na przykład rekonstrukcja kostki o boku 1024 pikseli zajmuje mniej niż dwie minuty! Ponieważ rekonstrukcję można wykonać na pojedynczym komputerze klasy PC wyposażonym w standardowe części dostępne na rynku, więc jego bieżąca obsługa i upgrade są proste i tanie. Przez zaznaczenie obszarów szczególnie ważnych, można skierować na nie całą moc obliczeniową i przyspieszyć w ten sposób analizę i procesy decyzyjne. Aby jeszcze poprawić wydajność, Inspect-X 1.5 umożliwia odkładanie rekonstrukcji do kolejki do wykonania w czasie nocy. W ten sposób użytkownicy mogą gromadzić dane z badań w ciągu dnia i uzyskiwać rekonstrukcje automatycznie po upływie nocy.
 

Inspect-X 1.5 posiada funkcje automatycznej inspekcji zwiększające bezbłędność i eliminujące konieczność umiejętności programowania podczas pracy nad elementami elektronicznymi i płytkami drukowanymi. Aby jeszcze bardziej polepszyć wydajność umożliwiono jednoczesne badanie wielu płytek drukowanych. Program samoczynnie zlokalizuje każda próbkę i porówna ją z charakterystycznymi cechami opisanymi w programie badania. A wbudowany czytnik kodów kreskowych do automatycznego rozpoznawania płytek jest kolejnym elementem procesu automatycznej inspekcji i raportowania.
 

Inspect-X zwiększa powtarzalność badań pomiędzy poszczególnymi próbkami przez zastosowanie zmiennej kalibracji, normalizując jasność obrazu w obszarach wokół strefy zainteresowania do wspólnego poziomu. Defekty w obudowach BGA lub w połączeniach mogą być skutecznie lokalizowane dzięki procesowi automatycznej analizy próbki z możliwością ręcznego jej zatwierdzania jako dobrej. Z kolei kompatybilność raportów z inspekcji z systemami MRP (planowania zapotrzebowania materiałowego) zwiększa spójność procesu produkcji.
 

Trwałość katody w źródle promieniowania X zależy od ilości przepływającego przez nią prądu i temperatury, w której musi ona pracować. Inspect-X 1.5 posiada automatyczny algorytm programowy dla systemów inspekcji elektroniki XT V 160, który optymalizuje zarządzanie prądem katody w celu wydłużenia jej żywotności. Optymalne warunki pracy katody pozwalają średnio wydłużyć jej żywotność dwukrotnie w porównaniu ze zwykłym jej używaniem. Dłuższa żywotność katody zaś oznacza mniej operacji jej wymiany, co przekłada się na krótsze przestoje i niższe koszty użytkowania.