AKTUALNOŚCI

Już dziś rusza VIII Międzynarodowa Konferencja Naukowa - Współrzędnościowa Technika Pomiarowa

31.03.2008 Skomentuj pierwszy

Tematem konferencji jest postęp naukowy i techniczny w zakresie budowy, oprogramowania, praktyki pomiarowej oraz dokładności współrzędnościowych maszyn pomiarowych a także wpływ współrzędnościowej techniki pomiarowej na definiowanie wymagań konstrukcyjnych.

Miejsce konferencji
Ustroń, Hotel Muflon - ul. Sanatoryjna 32, 43-450 Ustroń.

Dodatkowe atrakcje
W hotelu można korzystać z siłowni, sauny, masaży wodnych i klasycznych. W pobliskim szpitalu uzdrowiskowym można korzystać z kąpieli solankowych.

Szczegółowe informacja na stronie:
http://www.wtp.pl

PROGRAM KONFERENCJI

PONIEDZIAŁEK, 31 MARCA 2008

9.00 – rejestracja uczestników (przez całą Konferencję)
13.00-14.00 – obiad

14.00-14.30 – otwarcie Konferencji

Prof. Eugeniusz Ratajczyk, Prof. Jan Szadkowski, Prof. Albert Weckenmann, Prof. Marek Trombski – Rektor ATH, Prof. Iwona Adamiec-Wójcik – Dziekan Wydziału Budowy Maszyn i Informatyki ATH

14.30-15.40 – obrady plenarne (prowadzący: dr Z. Humienny, prof. C.P. Keferstein)

Eugeniusz RATAJCZYK: Systems for Geometrical Measurements of Motor Vehicles During Post Accident Damage Repairs (review) (35 min.)

Albert WECKENMANN, Philipp KRÄMER: 3D Computed Tomography for Dimensional Metrology (35 min.)

15.40-16.00 – przerwa

16.00-17.00 – obrady plenarne (prowadzący: prof. S. Żebrowska-Łucyk, prof. A. Weckenmann)

Claus P. KEFERSTEIN, Carlo BACH, Michael MARXER: Universal Approach for the Integration of Optical Sensors in Articulating Systems (20 min.)

Thomas G. MATHIA, Gérard MEILLE, Etienne LEPRAT, Serge CARRAS, Philippe CARVAL, Isaias HILERIO: 3D Optical – Quasi-confocal Topography Measurements and Characterizations of Living and Deformable Surfaces (20 min.)

Numan M. DURAKBASA, P. Herbert OSANNA, Pinar AKSOY, Jorge M. BAUER, Lukas KRÄUTER: Comparision of Contact and Optical Non-contact Methods for the Analysis and Characterization of Surfaces of Precise Workpieces (20 min.)

17.00-17.15 – przerwa

17.15-18.15 – obrady plenarne (prowadzący: prof. J. Sładek, prof. P.H. Osanna)

Tibet ERKAN, René MAYER, Adam WOŹNIAK: Surface Probing Simulator for the Evaluation of CMM Probe Radius Correction Software (20 min.)

Simone CARMIGNATO, Alessandro VOLTAN, Enrico SAVIO: Investigation on Testing Procedures for Optical Coordinate Measuring Systems (20 min.)

Walter E. RUMPF, Karl J. LENZ: Major Trends in Metrology – Utilizing Modern Multisensor Coordinate Measuring Systems (20 min.)

18.30 – ognisko lub kolacja (w zależności od pogody)

WTOREK, 1 KWIETNIA 2008

9.00-13.30 – wycieczka (przede wszystkim dla gości zagranicznych)

9.00-10.10 – prezentacje producentów maszyn współrzędnościowych (prowadzący: prof. J. Chajda, prof. W. Kacalak)

Marek NOCUŃ: Nowości z firmy Carl Zeiss (25 min.)

Marek MIGACZ: Nowe kierunki w metrologii przemysłowej – F-25, O-Inspect (15 min.)

Witold SIEMIENIAKO, Zbigniew PRZĄDKA, Szymon MATYJASZEK: Kompleksowe rozwiązania firmy Hexagon Metrology w zakresie pomiarów przemysłowych (30 min.)

10.10-10.30 – przerwa

10.30-11.40 – prezentacje producentów maszyn współrzędnościowych (prowadzący: dr Wł. Jakubiec, prof. Cz. Łukianowicz)

Piotr STIASNY: Modernizacje współrzędnościowych maszyn pomiarowych (25 min.)

Radosław BOBA, Krzysztof KOSOWSKI: Systemy i aplikacje fotogrametryczne w metrologii (20 min.)

Tomasz SZYMAŃSKI: Systemy pomiaru i analizy zarysu profilu (10 min.)

Sebastian STĘPNIAK: Mitutoyo – 70 lat w pomiarach (15 min.)

11.40-12.00 – przerwa

12.00-13.20 – prezentacje producentów maszyn współrzędnościowych (prowadzący: dr J. Malinowski, prof. T. Iglantowicz)

Robert LEWOŃ: Comtec 3D – przegląd rozwiązań stosowanych w technice współrzędnościowej w oparciu o produkty Innovalia Metrology i Metrologic Group (20 min.)

Krzysztof PAWLAK: Pomiary optyczne na maszynie współrzędnościowej w oparciu o technologię OptiScan firmy DataPixel (20 min.)

Robert KACZMARCZYK: Możliwości pomiarowe ramienia Faro Quantum i LLP v. 37 (20 min.)

Grzegorz KRAJEWSKI: Zastosowanie interferometru laserowego XL80 do pomiarów i automatycznej kompensacji błędów obrabiarek CNC oraz maszyn współrzędnościowych z kontrolerami UCC (20 min.)

13.45-14.45 – obiad

14.45-16.00 – obrady plenarne (prowadzący: prof. E. Ratajczyk, dr M. Kowalski)

Jerzy SŁADEK, Marcin KRAWCZYK: Nadzorowanie dokładności pomiaru współrzędnościowego (25 min.)

Marek NOCUŃ, Dietrich IMKAMP: Acceleration of Quality Control on Coordinate Measuring Machines with “Navigator Scanning” (25 min.)

Zbigniew HUMIENNY: Nowe możliwości tolerowania funkcjonalnego (25 min.)

16.00-16.30 – przerwa

16.30-17.45 – obrady w sekcjach

Prowadzący: prof. J. Szadkowski, prof. W.E. Rumpf	Prowadzący: prof. O. Ivakhiv, dr A. Tyka
Albert WECKENMANN, Natasa PETROVIC, Teresa WERNER: Enhancing the Traceability of Measurement Results by Demand Responsive Qualification (15 min.)	Jan PODANÝ, Vladimír JECH: Nano-layers in Metrology (15 min.)
Albert WECKENMANN, Laura HEIDEMANN, Radu RACASAN: Multi-sensor Coordinate Measuring Machine for Micro- and Nanometer Scaled Features (15 min.)	Sabina ŻEBROWSKA-ŁUCYK, Ryszard RUDZIŃSKI: Wzorce eliptyczne do wyznaczania wzmocnienia czujników przemieszczeń promieniowych (15 min.)
Vytautas GINIOTIS, Domantas BRUČAS: Accuracy of Angle Measurements in Machine Engineering (15 min.)	Jana JURENOVÁ, Michal OBMAŠČÍK, Ondrej HÍREŠ: Analysis of Deformed Surfaces of High Strength Materials Using 3D Coordinate Measuring Machine (15 min.)
Marius BULGARU, Sorin BILEGAN: Model Reconstruction Technique Using a Computed Tomograph (15 min.)	Jacek MICHALSKI, Paweł PAWLUS, Wiesław GRABOŃ: Application of Frequency Analysis to Assessment of Honed Flank Teeth Surface Topography (15 min.)
George KAISARLIS, Stephanos DIPLARIS, Michael SFANTSIKOPOULOS, George PETROPOULOS: Development of a User-friendly Software Tool for CMM Uncertainty Evaluation in an Industrial Environment (15 min.)	Wiesław GRABOŃ, Paweł PAWLUS, Jacek MICHALSKI: Description of Two-process Surface Topography Using Dual-Gaussian Probability Distribution (15 min.)

17.45-18.45 – sesja posterowa

Paweł ANDRAŁOJĆ: Możliwości i ograniczenia pomiarowe profilometru optycznego pracującego w trybach VSI i PSI na przykładzie WYKO NT1100
Libor BERÁNEK: CFRC Composites Surface Study
Sebastian BROL, Wit GRZESIK: Conventional and Unconventional Methods of Geometrical Characterization of Machined Surfaces
Sławomir BUBNOWICZ, Czesław ŁUKIANOWICZ: Practical Problems in Measuring Coaxiality by Coordinate Measuring Machine
Simone CARMIGNATO, Alessandro VOLTAN, Enrico SAVIO: Launch of an Industrial Inter-comparison for Coordinate Measuring Systems with Optical Sensors
Jan CHAJDA, Michał PAWŁOWSKI: Application of the Expert Program in the Cylindricity Measurement
Sergei ERMAKOV, Andrei SVIRSKI: Measuring the Wear Scar During Testing the Lubricant
Bartosz GAPIŃSKI: The Roundness Deviation Measurement with CMM
Jacek GOGÓL: Strategy of Development of Measuring Machines Manufactured in IZTW Cracow
Mirosław GRZELKA: Analysis of the Accuracy of the Optical Coordinate Measuring System GOM ATOS II
Mirosław GRZELKA: Possible Applications of the Optical Coordinate Scanner GOM ATOS II
Władysław JAKUBIEC, Konrad SIERACKI: Oprogramowanie do wyznaczania niepewności pomiarów współrzędnościowych
Władysław JAKUBIEC, Zbigniew HUMIENNY: Najlepsza możliwość pomiarowa w zakresie wzorcowania współrzędnościowych maszyn pomiarowych
Barbara JURAS: Badanie dokładności współrzędnościowego pomiaru punktu na powierzchni
Marek KOWALSKI, Robert KUPIEC: Charakteryzacja przestrzeni błędów WMP
Roman LOREK, Stanisław PŁONKA: Struktura geometryczna powierzchni 2D i 3D warstw tlenkowych wytworzonych na stopach aluminium
Andrejus Henrkas MARCINKEVIČIUS: Research of Work Position Accuracy of a Cylindrical Grinding Machine

19.00 – uroczysta kolacja

ŚRODA, 2 KWIETNIA 2008

9.00-10.00 – sesja posterowa

Halina NIECIĄG, Zbigniew CHUCHRO: One Computational Aspect of Reference Data Set Designing in CMMs Software Validation
Andriy MYTS, Volodymyr PUYDA, Lubomyr TSYHYLYK: 3D Coordinates Determination of Object by the Method of the Perpendicular Placing of Video Cameras
Eugeniusz RATAJCZYK, Michał ZAWACKI: Accuracy Tests of Measuring Arms – Is it Possible to Compare ASME and ISO standard requirements?
Maciej SIENIŁO, Sabina ŻEBROWSKA-ŁUCYK: Research on the Influence of Measurement Speed and of Diameter of the Sensor Tip on the Results of the Measurement of Form Deviations
Jerzy SŁADEK, Ksenia OSTROWSKA, Grzegorz SOKAL: Błędy przypadkowe w pomiarach redundantnymi systemami współrzędnościowymi
Borys STORCH, Izabela WIERUCKA: Ocena dokładności pomiarowej komputerowego systemu analizy obrazów zarysów gwintu
Andrzej TYKA, Andrzej GÓRALCZYK: Problemy realizacji nadzorowania niektórych hybrydowych współrzędnościowych maszyn pomiarowych
Mariusz UŚCIŃSKI: Measuring Accuracy Performed Coordinate Engineering Analysis, on the Basis of Interlaboratory Comparison “Coordinate 2007” Results
Jarosław WIECZOREK, Władysław JAKUBIEC: Badania niepewności pomiarów porównawczych
Norbert WISŁA: Measurement System Capability (MSA) or Measurement Process Suitability (VDA5)
Mirosław WOJTYŁA, Marcin STARCZAK: Niepewność fotogrametrycznych pomiarów przewodów rurkowych
Anna ZAWADA-TOMKIEWICZ: Measurement Uncertainty Assessment in Machine Vision System for Tool Wear Estimation

10.00-10.15 – przerwa

10.15-11.30 – obrady w sekcjach

Prowadzący: dr M. Starczak, prof. M. Obmaščik	Prowadzący: prof. W. Grzesik, prof. M. Bulgaru
Krzysztof OLSZEWSKI: Systemy obróbki obrazu (15 min.)	Ryoshu FURUTANI, Norimasa SAKUTA: Straightness Calibration of 2D Stage by Measuring the Profile of Referece Mirrors (15 min.)
Robert SOWIŃSKI: Pomiary kół zębatych z wykorzystaniem oprogramowania GEAR-PRO oraz maszyn pomiarowych ZEISS (15 min.)	Michael McCARTHY: NPL Form and Vision Machine Verification Artefacts (15 min.)
Özgür TAN: Evaluation of the Capability of Measurement Systems (15 min.)	Orest IVAKHIV, Maxym OLEKSIV, Volodymyr PUYDA: Objects Identification System for Assembly Line (15 min.)
Ali AFJEHI-SADAT: Nanotechnology and Precision Metrology with Consideration of Standardization (15 min.)	Magdalena NIEMCZEWSKA-WÓJCIK: Measurements and Parameters of the 3D Roughness and Their Usefulness for the Assessment of the Technological Quality of the Products (15 min.)
Thomas G. MATHIA, Serge CARRAS, Philippe CARVAL: Geometrical and Morphological Automatic 9-axes Metrology of Sub-Millimetric (< 100 μm) Cavities (15 min.)	Maciej SIENIŁO, Sabina ŻEBROWSKA-ŁUCYK: Badania dokładności wyznaczania wymiarów przekrojów poprzecznych elementów konstrukcyjnych metodą bezodniesieniową (15 min.)

11.30-11.45 – przerwa

11.45-12.45 – obrady w sekcjach

Prowadzący: dr B. Juras, prof. R. Furutani	Prowadzący: dr W. Płowucha, prof. T. Mathia
Adam WOŹNIAK, René MAYER: Micro-shape Master Artifact for Testing the Dynamic Performance of CMM Scanning Probes (15 min.)	Zbigniew ZALISZ, Piotr MORKA, Wit GRZESIK: Sprawdzian położenia segmentów rury giętej zespołu nośnego „Fiat 169 carrier” w przestrzeni 3D (15 min.)
Jerzy SŁADEK, Marcin KRAWCZYK, Ksenia OSTROWSKA, Adam GĄSKA: Zastosowanie metody Monte Carlo do wyrażania niepewności pomiarów współrzędnościowych na przykładzie metody wielopozycyjnej (15 min.)	Andrzej TYKA, Andrzej GÓRALCZYK: Możliwości wyznaczania przestrzennych charakterystyk SGP w reflektometrycznych pomiarach rozproszeniowych (15 min.)
Rüdiger GILLHAUS, Markus KÄSTNER, Jörg SEEWIG, Eduard REITHMEIER: 3D Data Aquisition, Processing and Analysis of Gear Shaft Measurements Using Optical Sensors (15 min.)	Artur BERNAT, Wojciech KACALAK: Computer Vision Methods in Task of Inference of Cutting Properties of Abrasive Tools, as an Alternative Approach to 3D Profilometry Based Measurements (15 min.)
Andrzej RYNIEWICZ: Metrologia współrzędnościowa w ocenie geometrii powierzchni roboczych biołożysk (15 min.)	Milan BOROVIČKA, Miroslava ÁČOVÁ: Determine of Quality Function Surface at Measurement on Coordinate Technique (15 min.)

13.00 – obiad, zakończenie Konferencji

PONADTO PRZEZ CAŁĄ KONFERENCJĘ BĘDZIE MOŻNA ODWIEDZAĆ NASTĘPUJĄCE STOISKA:

Radosław BOBA, Krzysztof KOSOWSKI (CASP System Sp. z o.o.): Prezentacja systemu fotogrametrycznego
Irena DZIWISZEK (Mechanik): Stoisko miesięcznika Mechanik
Marcin KRAWCZYK (Politechnika Krakowska): Nadzorowanie dokładności WSP
Robert LEWOŃ, Krzysztof PAWLAK (Comtec 3D): Prezentacja oprogramowania i ramienia pomiarowego
Michał ŁAWICKI (Faro Polska): Prezentacja systemów Faro LT i LS
Witold SIEMIENIAKO, Zbigniew PRZĄDKA, Szymon Matyjaszek (Hexagon Metrology Polska): Prezentacja systemu Laser Tracker i ramienia pomiarowego
Agnieszka SKÓRKOWSKA (P-A-K): Stoisko miesięcznika Pomiary-Automatyka-Kontrola
Robert SOWIŃSKI (Carl Zeiss IMT Polska): Prezentacja oprogramowania Calypso firmy Zeiss

ZOBACZ RÓWNIEŻ ...