Agilent Technologies prezentuje IC-CAP WaferPro
24.08.2010
Skomentuj pierwszy
Firma Agilent Technologies Inc. ogłosiła program do określania charakterystyk oraz analizowania obwódów scalonych Integrated Circuit Characterization and Analysis Program (IC-CAP) Wafer Professional (WaferPro). Nowy program dostarcza narzędzia do automatycznych, wielopłytkowych oraz wielustronnych pomiarów DC oraz RF dla aplikacji modelujących urządzenia półprzewodnikowe.
WaferPro umożliwia kontrolowanie pół i w pełni automatycznych stacji sondujących. Obok wsparcia dla najnowszej matrycy przełączającej WaferPro automatyzuje pomiary punktowe oraz zdejmowane na zasadzie przemiatania częstotliwościowego w całym zakresie temperatur. Natomiast zdolność WaferPro do bezpośredniej kontroli nad parametrycznymi systemami testującymi 4070 oraz 4080 firmy Agilent znacząco przyspiesza te pomiary.
Przestawianie płytki w programie WaferPro odbywa się automatycznie w odpowiedzi na każdą zmianę temperatury. Tym samym odpada konieczność nadzorowania wykonywanych pomiarów przez inżynierów. Plany testów mogą być uruchamiane automatycznie na różnych stacjach pomiarowych, na różnym osprzęcie, co pozwala na maksymalne wykorzystanie sprzętowego zaplecza laboratoryjnego. Oparty na wyszukiwanej architekturze WaferPro umożliwia także efektywną analizę oraz przetwarzanie danych, a także stanowi dobrą bazę wyjściową dla przyszłych, zaawansowanych zadań modelowania.
„Złożoność modelowania urządzeń rośnie, rośnie także liczba wymaganych pomiarów dla tych urządzeń i ich weryfikacji.” – stwierdza Chris Morton, kierownik Agilent EEsof EDA. “Statystyczne modelowanie jest nie lada wyzwaniem dla odlewni, a także jest priorytetem dla projektantów pracujących z mniejszymi tranzystorami i bardziej złożonymi aplikacjami. Ponadto parametryczne systemy testujące firmy Agilent są coraz częściej instalowane w laboratoriach zajmujących się modelowaniem urządzeń, już nie są wykorzystywane jedynie w procesach opracowywania nowego produktu oraz w środowiskach produkcyjnych. WaferPro jest pierwszym produktem z nowej serii, który radzi sobie z tymi wygórowanymi wymaganiami.”
WaferPro jest sprzedawany razem z ostatnio wydanym programem IC-CAP 2010.08 firmy Agilent. Więcej informacji o WaferPro na stronie www.agilent.com/find/eesof-iccap.
WaferPro umożliwia kontrolowanie pół i w pełni automatycznych stacji sondujących. Obok wsparcia dla najnowszej matrycy przełączającej WaferPro automatyzuje pomiary punktowe oraz zdejmowane na zasadzie przemiatania częstotliwościowego w całym zakresie temperatur. Natomiast zdolność WaferPro do bezpośredniej kontroli nad parametrycznymi systemami testującymi 4070 oraz 4080 firmy Agilent znacząco przyspiesza te pomiary.
Przestawianie płytki w programie WaferPro odbywa się automatycznie w odpowiedzi na każdą zmianę temperatury. Tym samym odpada konieczność nadzorowania wykonywanych pomiarów przez inżynierów. Plany testów mogą być uruchamiane automatycznie na różnych stacjach pomiarowych, na różnym osprzęcie, co pozwala na maksymalne wykorzystanie sprzętowego zaplecza laboratoryjnego. Oparty na wyszukiwanej architekturze WaferPro umożliwia także efektywną analizę oraz przetwarzanie danych, a także stanowi dobrą bazę wyjściową dla przyszłych, zaawansowanych zadań modelowania.
„Złożoność modelowania urządzeń rośnie, rośnie także liczba wymaganych pomiarów dla tych urządzeń i ich weryfikacji.” – stwierdza Chris Morton, kierownik Agilent EEsof EDA. “Statystyczne modelowanie jest nie lada wyzwaniem dla odlewni, a także jest priorytetem dla projektantów pracujących z mniejszymi tranzystorami i bardziej złożonymi aplikacjami. Ponadto parametryczne systemy testujące firmy Agilent są coraz częściej instalowane w laboratoriach zajmujących się modelowaniem urządzeń, już nie są wykorzystywane jedynie w procesach opracowywania nowego produktu oraz w środowiskach produkcyjnych. WaferPro jest pierwszym produktem z nowej serii, który radzi sobie z tymi wygórowanymi wymaganiami.”
WaferPro jest sprzedawany razem z ostatnio wydanym programem IC-CAP 2010.08 firmy Agilent. Więcej informacji o WaferPro na stronie www.agilent.com/find/eesof-iccap.
ZOBACZ RÓWNIEŻ ...
Symulacja pól elektromagentycznych EMPro 2010

Funkcje Współdzielenia Danych w Advanced Design System 2009
KOMENTARZE (0)

Nieznajomy musisz być zalogowany aby dodać komentarz.

Dassault Systèmes wprowadza 3D UNIV+RSES

SOLIDWORKS 2025 - kluczowe funkcje

Aktualizacja AutoCAD i AutoCAD LT 2025.1

Nowe polecenie w NX do zaokrąglania krzywych na powierzchni

Rzutowanie krzywej w SOLIDWORKS

BenQ SW242Q - profesjonalny 24 calowy monitor IPS 2K

Zmiany w licencjonowaniu produktów Autodesk

Udoskonalone działanie grafiki w SOLIDWORKS
ZOBACZ WSZYSTKIE AKTUALNOŚCI
02.2025
23
3DEXPERIENCE WORLD 2025
Lokalizacja: Houston, TX03.2025
04
Wood Tech Expo - Targi technologii obróbki drewna i produkcji mebli
Lokalizacja: Nadarzyn k. Warszawy03.2025
05
AI w symulacjach CAE – jak przyspieszyć obliczenia nawet 1000x?
Lokalizacja: on-line03.2025
12
Kontrola wióra przy toczeniu
Lokalizacja: Jasionka03.2025
25
Dni Druku 3D
Lokalizacja: Kielce11.2025
04
Warsaw Industry Week - TARGI PRZEMYSŁOWE
Lokalizacja: Nadarzyn k. WarszawyDODAJ WYDARZENIE